LET-2000D系列半导体动态参数测试系统-力钛科

LET-2000D是满足IEC60747-8/9、JESD24标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场合。特别对于应用第三代半导体的需要，LET2000D有着较高的系统带宽，可以有效的测量出实际的器件参数。

- 双脉冲测试法可以测试 IGBT 模块和驱动的性能，获取 IGBT 稳态和暂态过程中的主要参数，用以评估IGBT 模块和驱动的性能，并进行电路参数的优化。

- 具体包括测试 IGBT 的实际工况、开关损耗、关断电压尖峰、开关暂态震荡情况、二极管反向恢复电流、杂散电感影响、吸收电路影响、 短路保护功能等， 可以通过测试进行优化栅极电阻 RG_ON 和 RG_OFF 参数、吸收电路参数、开关频率设置等，并可以进行 IGBT 模块的并联和串联实验。