LET-SP802半导体参数测试系统-力钛科

LET-SP802 半导体测试系统是一款测量与分析功率半导体器件静态参数的专用仪器， 为所有类型的功率半导体器件提供静态参数测量解决方案。 LET-SP802半导体测试系统能实现精确测量、分析功率半导体器件的静态参数。

1. 主要技术指标

额定工作条件及规格：

    LET_SP802 功耗：     150W

   电          源：     220V/AC    50Hz

    环  境   温 度：     室温

主要测试器件

二极管      

VF、VFM

IGBT、MOSFET

其他分立器件及其测试参数可根据具体情况增加。